产品简介

SKP开尔文探针技术介绍：引入非接触式扫描探针测试技术来研究样品的局部现象，通过对样品表面的电压、电流、电阻、功函数和离子浓度等进行成像，来甄别金属、合金，涂层和氧化物以及生物材料等样品局部反应发生的位置

SECM扫描电化学显微镜（SKP开尔文探针技术，LEIS局部交流阻抗技术，SVET扫描振动电极技术）介绍：
传统的电化学测试技术，测量的是整个电极/电解液界面的平均响应信号。但由于腐蚀，能源材料，光电催化和生物等各类的电化学样品体系及反应很少为均相，所以样品通常由钝化/活化自然属性的局部区域，或者阴极或者阳极特性的局部区域组成。引入非接触式扫描探针测试技术来研究样品的局部现象，通过对样品表面的电压、电流、电阻、功函数和离子浓度等进行成像，来甄别金属、合金，涂层和氧化物以及生物材料等样品局部反应发生的位置和区域大小，反应动力学，金属离子脱嵌，SEI膜的生长，并配合其他技术手段可对反应机理进行深入的研究。

然而，如何进行微小信号的精确测量，尤其是如何将原位自反应所产生的微弱信号从背景噪音中区分出来非常具有挑战，从探针移动的步径，探针的直径，相互作用，信号的测量能力等也极大的影响着测试结果的空间分辨率。

具有多种技术:

· 扫描电化学显微镜(SECM)

 -   等距离扫描-柔性探针技术(Stylus SECM）

 -   无氧化还原介质-交流SECM技术(AC-SECM)

· 扫描振动电极测量系统(SVET, SVP)

· 微区电化学阻抗系统(LEIS)

· 扫描开尔文探针系统 (SKP)

· 扫描电解液微液滴系统 (SDC)

· 非接触式光学微区形貌探测系统 (OSP)

· 表面离子浓度成像系统(ISP)

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