SKP开尔文探针技术介绍：引入非接触式扫描探针测试技术来研究样品的局部现象，通过对样品表面的电压、电流、电阻、功函数和离子浓度等进行成像，来甄别金属、合金，涂层和氧化物以及生物材料等样品局部反应发生的位置

LEIS局部交流阻抗技术是扫描电化学显微镜（SECM）测试系统的核心扩展功能模块，属于微区电化学表征技术。它将传统宏观电化学阻抗谱（EIS）的频率域分析能力，与 SECM 的高空间分辨率成像能力相结合，实现对电极 / 电解质界面局部区域阻抗特性的精准测量与可视化 mapping，突破了传统 EIS 只能获取表面平均信息的局限。

微区扫描电化学系统,SVET扫描振动电极技术是一种非接触、原位、空间分辨的微区电化学表征方法，核心是通过振动式微电极探针，实时测绘样品表面 / 界面的局部电流密度分布，直观呈现电化学过程的空间异质性。

微区扫描电化学系统，原位空间分辨扫描电化学介绍：传统的电化学测试技术，测量的是整个电极/电解液界面的平均响应信号。但由于腐蚀，能源材料，光电催化和生物等各类的电化学样品体系及反应很少为均相，所以样品通常由钝化/活化自然属性的局部区域，或者阴极或者阳极特性的局部区域组成。